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          大話芯片功耗

          2019-9-18 10:21:00
          • 隨著芯片上晶體管數(shù)量的不斷增加,上層應(yīng)用程序復(fù)雜度的提升,現(xiàn)今的半導(dǎo)體行業(yè)對芯片功耗的關(guān)注比以往任何時候都要多,尤其是在手機(jī)等移動端設(shè)備,如果產(chǎn)品動不動就沒電了,那是一件十分令人頭痛的事情。

          另一方面,電池材料相關(guān)技術(shù)發(fā)展十分緩慢,導(dǎo)致目前的電池容量在相同密度下還是和電池體積呈正相關(guān)性,因此在做芯片設(shè)計的時候從頂層到底層都會采用低功耗(Low Power)技術(shù)??赡苡行┩瑢W(xué)會問,那有些正常工作情況下直接和電源相連接的設(shè)備是不是不需要考慮功耗?

          這個問題包含幾個方面的考慮因素。首先地球上的石化能源是有限的,功耗高就意味著在相同的時間內(nèi)需要消耗更多能源,其次對于高性能計算芯片來說,當(dāng)功耗超過一定閾值(~150W),就需要使用昂貴的液態(tài)冷卻或其他熱量散發(fā)裝置,所以出于節(jié)約能源,環(huán)境保護(hù)和幫助客戶節(jié)約電費(fèi)的角度來說低功耗設(shè)計依舊是必須考慮的因素。那么接下來我們就來簡單了解一下芯片中功耗的主要來源以及相應(yīng)的減少功耗的常用技術(shù)。值得注意的一點(diǎn)是盡管IC的前后端設(shè)計者通常會采用各種方法來減少功耗,但是應(yīng)用層和架構(gòu)層的設(shè)計才是最至關(guān)重要的,上層的應(yīng)用和架構(gòu)沒有設(shè)計好,即使后端有再多的低功耗輔助技術(shù)也不能從根本上解決問題。就好比做一種美食,如果食材本身不新鮮,那無論多好的炊具也無法改善食物的口感。

          1.功耗的主要來源

          1.1 動態(tài)功耗(Dynamic Power)

          動態(tài)功耗主要包含:

          ● 門電路開關(guān)過程中負(fù)載電容(Load capacitance)的充放電功(Switching Power)

          ● 來自于pMOS和nMOS都部分開啟時的短路電流(Short-circuit Power)

          以下圖的CMOS反相器(Inverter)為例,當(dāng)輸入Vin從1變?yōu)?的過程中,nMOS關(guān)閉,pMOS開啟并給負(fù)載電容CL充電,當(dāng)輸入Vin從0變?yōu)?的過程中,pMOS關(guān)閉,nMOS開啟并使負(fù)載電容放電,電容充放電的過程中消耗的能量構(gòu)成了Switching Power.

          在充放電的過程中存在一小段窗口pMOS和nMOS都是處在部分開啟的狀態(tài),因此會有電流直接從VDD流到GND,構(gòu)成Short-circuitPower。

          通過對上面的充放電行為進(jìn)行物理分析,結(jié)合歐姆定律和電容充放電和能量相關(guān)公式,我們可以得到充放電功耗:

          其中α是翻轉(zhuǎn)系數(shù)(Switching Activity Factor),C是負(fù)載電容,VDD是工作電壓,f是工作頻率,這個幾個參數(shù)對后面我們討論降低功耗有著至關(guān)重要的意義。

          1.2 靜態(tài)功耗(Static Power)

          靜態(tài)功耗主要包含:

          ● 晶體管關(guān)閉狀態(tài)的漏電功耗(Subthreshold Leakage)

          ● PN結(jié)反向偏置電流功耗(Reverse-Biased Junction Leakage)

          ● 柵極漏電流功耗(Gate Leakage)

          其中Subthreshold Leakage占主導(dǎo)地位。在通用微處理器架構(gòu)里,時鐘網(wǎng)絡(luò)(Clock Tree)和片上存儲器通常會占用大部分的功耗。

          2.低功耗技術(shù)

          2.1 Clock Gating

          Clock Gating即把不用的功能模塊的時鐘信號關(guān)閉,通過減少前面講到過的Switching Activity Factor來降低功耗。具體實現(xiàn)方法如下:

          通過與門和Latch(毛刺消除)組成的Clock Gating Cell,Register的Clock端口的時鐘隨使能信號開關(guān),當(dāng)時鐘關(guān)閉時,由該Register所驅(qū)動的下游組合邏輯也相應(yīng)降低了功耗。Clock Gating實現(xiàn)的重點(diǎn)在于找到合適的使能信號,目前的芯片設(shè)計Flow中只要符合以下三個條件后端的工具鏈就會自動生成ICG(Intergated Clock Gating) cell:

          ● Register Bank的使能信號不可以(簡化)為常量0或1;

          ● 對于不包含Latch的Clock Gating,使能信號必須來自于與被Gate的Register時鐘同步的Register;

          ● Register bank滿足用戶所指定的最小位寬要求;

          關(guān)于Switching Activity Factor,還有一點(diǎn)值得一提的是電路中的Glitch,因為實際的Silicon中會有組合邏輯延遲(Propgation Delay),因此對于一個門電路來說,由于輸入信號的到達(dá)時間會存在差異,所以實際的跳變會變得更加嚴(yán)重,從而增加Switching Activity Factor。因此有條件的話可以在做功耗分析時加入Glitch Power的預(yù)估。

          2.2 電壓域(Voltage DomAIn)和動態(tài)電壓頻率調(diào)節(jié)(Dynamic Voltage and_Frequency Scaling)2.2.1 Voltage Domain

          在上面的公式中,工作電壓VDD與動態(tài)功耗是平方的關(guān)系,所以電壓的調(diào)整對功耗的影響也十分顯著,但是根據(jù)alpha-power law,在其余條件不變的情況下,電壓的降低會導(dǎo)致延遲的增加,即電路的性能降低。通常來說,整個芯片會根據(jù)具體的性能需求被分成幾個不同的Voltage Domain,這種方案帶來的挑戰(zhàn)就是如何處理跨電壓域(Voltage Domain Crossings)的信號,常用的解決方案是采用Level Shifter實現(xiàn):

          上圖A來自于VDDL Domain,P1,P2,N1,N2均工作在VDDH,其中N1和N2分別接到A和~A,反相器也工作在VDDL,當(dāng)A=0時,N1關(guān),N2開,Y接地輸出0,P1開,X接VDDH,保證P2關(guān)閉;當(dāng)A=1時,N1開,N2關(guān),X接地,P2開,Y接VDDH,P1關(guān)。從而達(dá)到A到Y(jié)不同電壓域之間的邏輯轉(zhuǎn)換。

          2.2.2 DVFS

          對于很多系統(tǒng)來說,處理不同數(shù)據(jù)和任務(wù)對于性能的需求是不一樣的,比如我現(xiàn)在正在碼文章的時候所消耗的計算資源和我看電影的時候所需要的計算資源是不一樣的。利用這個特點(diǎn),我們可以根據(jù)計算任務(wù)負(fù)荷來動態(tài)調(diào)整電壓和頻率至能滿足需求的最低程度,這就是DVFS。

          DVFS的具體實現(xiàn)方法多種多樣,例如Linux里的OnDemand功耗策略,有興趣的同學(xué)可以參考相關(guān)文獻(xiàn)。

          關(guān)于頻率角度的低功耗,在設(shè)計中常采用多時鐘域的方法,例如處理器的Bus通常比核心頻率要低。由于存在多個時鐘域,我們設(shè)計中需要考慮跨時鐘域信號的同步問題,后續(xù)我們會有相關(guān)文章詳細(xì)介紹,通常來說,工作頻率為整數(shù)倍關(guān)系的時鐘域之間被認(rèn)為是同步的,處理相對比較簡單。

          DVFS實現(xiàn)存在比較大的一個缺點(diǎn)就是切換過程中的時間overhead較大(us級別)。

          2.3 Power Gating

          Power Gating是減少靜態(tài)電流非常有效的方法,下圖中當(dāng)Power Gated Block正常工作時,Sleep信號為0,工作電壓VDDV通過開啟的PMOS接到VDD,當(dāng)系統(tǒng)進(jìn)入低功耗模式,Sleep信號變?yōu)?,VDDV被斷開,整個Power Gated Block關(guān)電,這里需要注意此時該Block的輸出端值為X,因此如果Output被下游Always On模塊使用,為了保證不影響下有邏輯的正常工作,通常會在InteRFace上加入Isolation Cell,這一過程目前主要由后端的tool自動加入。

          Power Gating帶來的一個問題是系統(tǒng)狀態(tài)的恢復(fù),一般來說被Power Gated Block中的Register值在喚醒時要么處于Reset狀態(tài),要么已經(jīng)被保存以便恢復(fù),在設(shè)計中通常將重要的訊息保存到State Retention Register或者M(jìn)emory里的方案。

          Power Gating通常針對整個Block(Coarse-grainedpower gating)而非單獨(dú)的邏輯門,因為Area和Performance的Overhead都比較大。

          3. 低功耗架構(gòu)

          早期工藝下的芯片架構(gòu)設(shè)計通??紤]如何最大化每一顆晶體管的性能,但如今隨著工藝進(jìn)入到7nm以下,芯片架構(gòu)設(shè)計越來越關(guān)注性能功耗比。

          3.1 并行化(Parallelism)和流水線(Pipelining)

          并行化和流水線都能在維持相同性能的情況下降低功耗,下圖中(a)是原始的設(shè)計電路。(b)采用了并行化做法,額外增加一組A和B邏輯,輸出端每個時鐘周期分別從兩組邏輯取得結(jié)果,因此每個輸入端是需要保證每兩個周期提供一個有效結(jié)果,即頻率變?yōu)樵瓉淼囊话搿?c)采用流水線做法,假設(shè)A和B被切分成delay相近的兩級,那么邏輯的整體頻率可以提升至2f,這樣以數(shù)據(jù)吞吐量衡量的性能也就近似為兩倍,在維持性能不變的情況下,我們完全可以降低工作電壓。

          3.2 總線編碼(Bus Encoding)

          通過給總線上的數(shù)據(jù)編碼通常有助于減少總線上的功耗,常見的方式有

          ● 反向編碼(Bus Invert Coding)

          例如總線上需要傳輸0000->1110轉(zhuǎn)換的數(shù)據(jù),這里總線上會有3個bit跳變,但如果我們對第二個數(shù)據(jù)做取反操作,那么總線上就只有1個bit跳變,這樣4個bit的總線最多只可能同時有兩個bit跳變,具體實現(xiàn)還需要設(shè)計反向條件的算法。

          ● 異或編碼(Transition Signaling)

          這種方法僅針對特定的轉(zhuǎn)換率很高的總線,發(fā)送端輸出編碼后bit值為前一個時鐘傳輸bit值和當(dāng)前時鐘傳輸bit值的異或,接收端解碼值為前一個時鐘接受到的bit值和當(dāng)前時鐘接收到的bit值得異或,舉個簡單的例子,如果我們要傳輸?shù)臄?shù)據(jù)為10100110(跳變5次),那么實際總線上傳輸?shù)臄?shù)據(jù)為11000100(跳變3次)。

          3.3 其他

          在設(shè)計架構(gòu)的時候,考慮到Memory的功耗密度(Power Density)通常低于Logic的功耗密度,并且Memory的Leakage控制比較規(guī)范化,如果同時有增加Logic或者M(jìn)emory兩種方案,通常增加Memory是對降低功耗比較有利的方案。

          另外新型的異構(gòu)計算架構(gòu)(Heterogeneous Computing)在性能和功耗方面比單純通用型處理器架構(gòu)更加優(yōu)秀,正所謂“專業(yè)的人做專業(yè)的事”,同樣的AI算法在CPU上跑,不但性能不好,而且時間久功耗也大,因此在可預(yù)見的未來,異構(gòu)計算將會成為趨勢。

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