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          溝槽當(dāng)?shù)溃矫嫘蚐iC MOSFET尚能

          2024-4-8 9:14:00
          • 溝槽當(dāng)?shù)溃矫嫘蚐iC MOSFET尚能

          溝槽當(dāng)?shù)?,平面型SiC MOSFET尚能

          最近,安森美發(fā)布了第二代1200V SiC MOSFET產(chǎn)品。安森美在前代SiC MOSFET產(chǎn)品中,采用M1及其衍生的M2技術(shù)平臺(tái),而這次發(fā)布的第二代1200V SiC MOSFET,安森美稱其為M3S。


          M3S產(chǎn)品導(dǎo)通電阻規(guī)格分為13/22/30/40/70mΩ,適配TO247?3L/4L和D2PAK?7L分立封裝。


          據(jù)官方介紹,S代表開關(guān),M3S系列專注于提高開關(guān)性能,相比于第一代1200V碳化硅MOSFET,除了降低特定電阻RSP (即RDS(ON)*Area) ,還針對(duì)工業(yè)電源系統(tǒng)中的高功率應(yīng)用進(jìn)行了優(yōu)化,如太陽能逆變器、ESS、UPS 和電動(dòng)汽車充電樁等。


          延續(xù)平面型結(jié)構(gòu),針對(duì)不同應(yīng)用采用兩種設(shè)計(jì)


          安森美在第一代SiC MOSFET上采用了平面設(shè)計(jì),包括了M1和后續(xù)從M1衍生出的M2平臺(tái),涵蓋750V、900V、1200V的耐壓規(guī)格。在M1平臺(tái)上,安森美的SiC MOSFET采用Square Cell結(jié)構(gòu)、M2平臺(tái)采用Hex-cell結(jié)構(gòu)。


          第一代SiC MOSFET產(chǎn)品上,安森美沒有為一些特定領(lǐng)域進(jìn)行特殊設(shè)計(jì),主要面向的是通用市場。而第二代產(chǎn)品中,安森美除了將M3的工藝平臺(tái)迭代至strip-cell,還為不同的應(yīng)用需求,設(shè)計(jì)了兩種技術(shù)方案,分別是T設(shè)計(jì)和S設(shè)計(jì)。


          其中T設(shè)計(jì)主要針對(duì)逆變器,因此需要更低的RDS(ON)和更好的短路能力,而不是更快的開關(guān)速度。S設(shè)計(jì)對(duì)高開關(guān)性能進(jìn)行了優(yōu)化,因此設(shè)計(jì)具有較低的QG(TOT) 和較高的di/dt和dv/dt,從而降低開關(guān)損耗。


          基于M3平臺(tái)的strip-cell結(jié)構(gòu),安森美第二代SiC MOSFET 在導(dǎo)通電阻、開關(guān)損耗、反向恢復(fù)損耗以及短路時(shí)間等關(guān)鍵性能指標(biāo)上均為業(yè)界領(lǐng)先水平,同時(shí)實(shí)現(xiàn)最優(yōu)的成本。不過目前安森美M1到M3平臺(tái)均為平面型設(shè)計(jì),下一代M4將會(huì)升級(jí)為溝槽結(jié)構(gòu),降低SiC MOSFET芯片面積的同時(shí),成本也將顯著得到優(yōu)化。


          實(shí)現(xiàn)導(dǎo)通損耗和開關(guān)損耗之間的平衡


          從參數(shù)來看,安森美M3S平臺(tái)的第二代SiC MOSFET相比第一代,主要是在導(dǎo)通損耗和開關(guān)損耗之間實(shí)現(xiàn)更好的平衡。


          根據(jù)安森美的實(shí)測數(shù)據(jù),首先在導(dǎo)通電阻RDS(ON)方面,一代產(chǎn)品的導(dǎo)通電阻隨溫度升高而升高的幅度較小,在導(dǎo)通損耗上,實(shí)際上一代產(chǎn)品是要優(yōu)于二代產(chǎn)品的。但是在高開關(guān)頻率下運(yùn)行的應(yīng)用中,導(dǎo)通在損耗中的比例相對(duì)較低,反而是受溝道電阻的影響,與第二代相比,第一代需要更高的正柵極偏置(VGS)才能完全導(dǎo)通,這就需要在驅(qū)動(dòng)電路上進(jìn)行額外的設(shè)計(jì)。因此,第二代的M3S更適合快速的開關(guān)應(yīng)用。


          導(dǎo)通和開關(guān)損耗在系統(tǒng)中是很關(guān)鍵的參數(shù),特別對(duì)于高開關(guān)頻率拓?fù)涞膽?yīng)用。在相同條件的雙脈沖測試電路中,二代相比一代實(shí)現(xiàn)了開關(guān)性能的大幅提升,開關(guān)損耗降低了40%,導(dǎo)通損耗降低了20-30%,總開關(guān)損耗比一代降低了34%。


          總體來看,M3S整體的設(shè)計(jì)都趨向高頻開關(guān)應(yīng)用,相比上一代更加著重于導(dǎo)通損耗和開關(guān)損耗之間的平衡,在工業(yè)自動(dòng)化、儲(chǔ)能、充電樁、電動(dòng)汽車OBC/DC-DC等領(lǐng)域都會(huì)有較好的應(yīng)用效果。

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