<strong id="5lvfi"><dl id="5lvfi"></dl></strong>

      • <tfoot id="5lvfi"><menuitem id="5lvfi"></menuitem></tfoot>
        <th id="5lvfi"><progress id="5lvfi"></progress></th>
          <strong id="5lvfi"><form id="5lvfi"></form></strong>
          <strong id="5lvfi"><form id="5lvfi"></form></strong>
        1. <del id="5lvfi"></del>

          首頁>商情資訊>行業(yè)新聞

          在達(dá)芬奇高速測試插座后,史密斯英特康希冀繼續(xù)領(lǐng)先老化測試插座市場

          2024-3-7 18:05:00
          • 科技讓生活更加便捷,我們的生活中已經(jīng)離不開各種高精密的電子產(chǎn)品工具。

          在達(dá)芬奇高速測試插座后,史密斯英特康希冀繼續(xù)領(lǐng)先老化測試插座市場
          科技讓生活更加便捷,我們的生活中已經(jīng)離不開各種高精密的電子產(chǎn)品工具。那么制造商如何確保向最終用戶提供的這些電子產(chǎn)品都在最佳狀態(tài)運(yùn)行,滿足客戶的使用需求?

          現(xiàn)代電子產(chǎn)品都需要一個(gè)必不可少的組件—半導(dǎo)體,被視為現(xiàn)代電子產(chǎn)品的大腦。半導(dǎo)體的可靠性直接影響了終端產(chǎn)品為用戶提供的使用體驗(yàn)。為了保證半導(dǎo)體的可靠性,制造商必須通過嚴(yán)格的半導(dǎo)體測試來檢測和消除可能存在的缺陷和故障。

          老化測試是一種關(guān)鍵的可靠性測試方法,旨在檢測組件的早期故障并減少使用時(shí)出現(xiàn)缺陷和故障的可能性。大多數(shù)半導(dǎo)體器件都存在早期失效或失效的風(fēng)險(xiǎn),老化測試可用于確定元件在這一關(guān)鍵早期階段的可靠性,通過工作環(huán)境和電氣性能兩方面對元器件進(jìn)行嚴(yán)苛的試驗(yàn),加快元器件在其壽命前10%部分的工作,而使缺陷在短期內(nèi)出現(xiàn), 盡使故障早期發(fā)現(xiàn)。

          經(jīng)過老化測試的集成電路 (IC) 在其工作壽命內(nèi)的故障率遠(yuǎn)低于未測試的 IC。因此,采用老化測試是半導(dǎo)體芯片生產(chǎn)環(huán)節(jié)中關(guān)鍵的環(huán)節(jié)。

          作為先進(jìn)半導(dǎo)體測試插座制造商,史密斯英特康(Smiths Interconnet)通過同軸高速測試插座(達(dá)芬奇(DaVinci)高速測試插座系列建立了在高速測試領(lǐng)域的行業(yè)地位。在2023年初史密斯英特康收購了Plastronics 擴(kuò)大其在老外測試插座市場的產(chǎn)品服務(wù)和市場份額。Plastronics是老化測試領(lǐng)域享譽(yù)盛名的技術(shù)品牌,為半導(dǎo)體行業(yè)提供老化測試插座、專利認(rèn)證的彈簧探針以及工業(yè)級(jí)應(yīng)用連接器。Plastronics技術(shù)的核心是使用具有專利的 H型彈簧探針 來提供高性能插座。H-Pin 是一種沖壓彈簧探頭,具有傳統(tǒng)彈簧探針的機(jī)械、電氣和熱性能優(yōu)勢,同時(shí)能夠?qū)崿F(xiàn)全自動(dòng)沖壓和批量生產(chǎn)。H型彈簧探針提供了一種新的更具成本優(yōu)勢更短交貨期的電氣連接方案。

          Plastronics 在老化測試行業(yè)已有 50 多年的歷史,在同行業(yè)內(nèi)擁有最多的QFN 產(chǎn)品測試插座,與客戶和合作伙伴建立了牢固的關(guān)系, Plastronics的批量專業(yè)制造技術(shù)和克服行業(yè)所面臨的測試技術(shù)挑戰(zhàn)的能力為史密斯英特康在半導(dǎo)體測試行業(yè)的發(fā)展具有重要意義。

          與傳統(tǒng)的插座解決方案相比,史密斯英特康的老化插座解決方案具有多項(xiàng)優(yōu)勢,包括:

          - 更多的引腳數(shù): 我們的老化測試插座可容納更多的引腳數(shù),因此適用于高性能電子設(shè)備。
          - 更多的設(shè)計(jì)靈活性: 我們?yōu)榭蛻籼峁└嗟脑O(shè)計(jì)靈活性,允許其對插座設(shè)計(jì)進(jìn)行定制和優(yōu)化,以滿足特定的應(yīng)用要求。
          - 生產(chǎn)時(shí)間更短: 插座通過自動(dòng)化裝配生產(chǎn),縮短了制造時(shí)間,降低了成本。
          - 電氣性能更高: 史密斯英特康提供的插座解決方案具有更高的電氣性能、更好的信號(hào)完整性、更低的串?dāng)_和更好的阻抗控制。H型彈簧探針由可承受高溫,由不銹鋼螺旋彈簧和 鈹銅制成,比其他觸針更耐用,使用壽命更長。H型彈簧探針為所有引腳提供了更恒定、更一致的接觸力,確保信號(hào)均勻傳輸,不會(huì)丟失或失真。這將帶來更好的信號(hào)完整性、更高的數(shù)據(jù)傳輸速率和更低的噪音。

          消費(fèi)者為他們的電子設(shè)備支付高價(jià),他們最不希望看到的是產(chǎn)品在購買后出現(xiàn)故障。進(jìn)行老化測試就是以復(fù)制實(shí)際的現(xiàn)場壓力環(huán)境,模擬各種情況,進(jìn)而降低故障率。通過這個(gè)消除過程,制造商可以最大限度地減少他們運(yùn)送給客戶的有缺陷半導(dǎo)體的數(shù)量。這種方法增加了電子設(shè)備達(dá)到消費(fèi)者預(yù)期的可靠性水平的可能性。

          史密斯英特康的專利技術(shù)立足于解決與高頻率、大電流、低電阻和足夠接觸行程相關(guān)的行業(yè)難題。此外,我們獨(dú)特的自動(dòng)化生產(chǎn)流程可確保客戶在任何新項(xiàng)目或現(xiàn)有產(chǎn)品改型中獲得最快的交付周期。

          產(chǎn)品老化測試是生產(chǎn)測試流程中必不可少的步驟,繼史密斯英特康在高速測試插座創(chuàng)造成功經(jīng)驗(yàn),史密斯英特康也希冀在老化測試方面為客戶提供最佳的解決方案。無論我們的客戶面臨的挑戰(zhàn)是成本、研發(fā)能力、交貨時(shí)間還是質(zhì)量,史密斯英特康擁有專業(yè)技術(shù)和制造能力來幫助客戶解決在老化測試和IC測試方面的難題。這也是史密斯英特康引以為豪的價(jià)值所在。
            <strong id="5lvfi"><dl id="5lvfi"></dl></strong>

              • <tfoot id="5lvfi"><menuitem id="5lvfi"></menuitem></tfoot>
                <th id="5lvfi"><progress id="5lvfi"></progress></th>
                  <strong id="5lvfi"><form id="5lvfi"></form></strong>
                  <strong id="5lvfi"><form id="5lvfi"></form></strong>
                1. <del id="5lvfi"></del>
                  韩国少妇无码 | 内射视频在线观看国产 | 精品人妻一区二区三区奶水 | 亚洲视频在线播放免费 | 4438全国成人网 |