EBERT

DESCRIPTION The DS2174 enhanced bit error rate tester (EBERT) is a software-programmable test-pattern generator, receiver, and analyzer capable of meeting the most stringent error-performance requirements of digital transmission facilities. It features bit-serial, nibble-parallel, and byte-parall

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增強(qiáng)型誤碼率測(cè)試器

DS2174增強(qiáng)型誤碼率測(cè)試器(EBERT)是一款可軟件編程的測(cè)試模式產(chǎn)生器、接收器和分析器，能夠滿足數(shù)字傳輸設(shè)備最嚴(yán)格的誤差性能要求。它具有位串行、半字節(jié)并行，以及字節(jié)并行數(shù)據(jù)接口，可以產(chǎn)生并唯一同步至2n - 1形式的偽隨機(jī)模式，其中n的取值范圍為1至32，用戶定義的重復(fù)性模式可以是不超過(guò)512字節(jié)的任意長(zhǎng)度。 \n? 產(chǎn)生并檢測(cè)數(shù)字模式，以便數(shù)字通信系統(tǒng)的分析和糾錯(cuò) \n? 可編程多項(xiàng)式長(zhǎng)度和反饋抽頭，以便產(chǎn)生多達(dá)232 - 1種任意偽隨機(jī)模式，最多32個(gè)抽頭可被用于反饋通道 \n? 可編程的用戶定義模式寄存器可產(chǎn)生長(zhǎng)達(dá)512字節(jié)的長(zhǎng)重復(fù)性模式 \n? 大容量48位計(jì)數(shù)和誤碼數(shù)寄存器 \n? 可軟件編程的誤碼嵌入 \n? 發(fā)送與接收通道完全獨(dú)立 \n? 8位并行控制端口 \n? 可以在高達(dá)10-2的誤碼率下檢測(cè)多項(xiàng)式測(cè)試模式 \n? 可編程為串行、4位并行或8位并行數(shù)據(jù)接口 \n? 串行模式時(shí)鐘速率為155MHz；字節(jié)模式為80MHz，適合622Mbps的OC-3凈流量 \n? 采用44引腳PLCC;

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Package：44-LCC（J 形引線）；包裝：管件 功能：增強(qiáng)型位誤碼率測(cè)試器（EBERT） 類別：集成電路（IC） 電信 描述：IC TELECOM INTERFACE 44PLCC

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Package：44-LCC（J 形引線）；包裝：卷帶（TR） 功能：增強(qiáng)型位誤碼率測(cè)試器（EBERT） 類別：集成電路（IC） 電信 描述：IC TELECOM INTERFACE 44PLCC

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Package：44-LCC（J 形引線）；包裝：卷帶（TR） 功能：增強(qiáng)型位誤碼率測(cè)試器（EBERT） 類別：集成電路（IC） 電信 描述：IC TELECOM INTERFACE 44PLCC

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