適用于動(dòng)態(tài)和半動(dòng)態(tài) X 射線平板檢測(cè)器的 256 通道模擬前端 (AFE)

AFE3256 是一款 256 通道模擬前端 (AFE)，旨在滿足基于平板檢測(cè)器 (FPD) 的數(shù)字 X 射線系統(tǒng)的要求。此器件包括 256 個(gè)集成器、帶雙電源的相關(guān)雙采樣器 (CDS) 和 256:2 模擬多路復(fù)用器。該器件還具有兩個(gè) 16 位逐次逼近寄存器 (SAR) 模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC)。來自 ADC 的串行數(shù)據(jù)采用低壓差分信令 (LVDS) 格式。\n\n該器件通常也稱為讀出集成電路 (ROIC)，可使用多種功耗模式和系統(tǒng)內(nèi)調(diào)試選項(xiàng)等特性來優(yōu)化整體系統(tǒng)性能。\n\n睡眠和待機(jī)模式能夠大幅降低功耗，這對(duì)于電池供電型系統(tǒng)至關(guān)重要。 ? 256 通道\n? 高性能： \n? 低相關(guān)噪聲\n? 掃描時(shí)間： \n? 可編程滿量程輸入電荷量范圍： 0.3pC 至 12.5pC，分辨率為 0.3pC\n? 內(nèi)置相關(guān)雙采樣器\n? 流水線式“集成和讀取”，用于提高集成期間的吞吐量數(shù)據(jù)讀取\n? 片上溫度傳感器\n? 簡單電源方案： \n? 多種功率模式，功耗范圍為 1mW/通道至 2mW/通道\n? 分箱模式支持\n? 定制 Chip-On-Film (COF) 封裝;

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德州儀器

AFE3256 256-Channel, Analog Front-End for Digital X-Ray, Flat-Panel Detectors

1 Features ? 256 channels ? On-chip, 16-bit ADC ? High performance: – Noise: 440 electrons RMS (1.2-pC input charge range) – Low correlated noise – Full-channel integral nonlinearity: ±2 LSB at 16 bit – Scan time:

文件：510.66 Kbytes 頁數(shù)：7 Pages

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